電磁兼容性EMC測(cè)試方法與整改是什么？可以聯(lián)系我司環(huán)測(cè)威檢測(cè)了解詳情。電磁兼容性（EMC）是電子設(shè)備存在于電磁環(huán)境中而不會(huì)對(duì)該環(huán)境中的其他電子設(shè)備造成干擾或干擾的能力。

　　EMC通常分為兩類(lèi)：

　　1.輻射 - 電子設(shè)備發(fā)出的電磁干擾可能會(huì)對(duì)同一環(huán)境中的其他電子設(shè)備造成干擾/故障。也稱(chēng)為電磁干擾（EMI）。

　　2.免疫/易感性 - 免疫是指電子設(shè)備在電磁環(huán)境中正常運(yùn)行而不會(huì)因其他電子設(shè)備發(fā)出的輻射而發(fā)生干擾/故障的能力，易感性基本上與免疫力相反，因?yàn)樵O(shè)備對(duì)電磁干擾的免疫力越小，它就越容易受到影響，通�？箶_度測(cè)試是不是必需的用于在澳大利亞，新西蘭，北美和加拿大銷(xiāo)售/分銷(xiāo)消費(fèi)/商用型產(chǎn)品。

　　EMC輻射發(fā)射測(cè)試方法

　　輻射發(fā)射（H場(chǎng)）：電磁波的磁性成分使用頻譜分析儀和/或EMI接收器以及合適的測(cè)量天線。典型的磁場(chǎng)天線包括環(huán)形天線，并且還包括根據(jù)CISPR 15的特定天線，例如Van Veen Loop。Van Veen環(huán)形天線基本上是三個(gè)環(huán)形天線，它們一起構(gòu)成三個(gè)軸（X，Y和Z）的產(chǎn)品磁場(chǎng)發(fā)射。

　　傳導(dǎo)發(fā)射（連續(xù)和不連續(xù)）：

　　傳導(dǎo)發(fā)射是電磁干擾（EMI）或源自電子或電氣設(shè)備內(nèi)部產(chǎn)生的頻率的干擾。然后，這些發(fā)射沿著互連的電纜傳播，例如有線端口，例如電信端口或電力導(dǎo)線。這些發(fā)射可以是連續(xù)的（在給定頻率下連續(xù)發(fā)射），也可以是不連續(xù)的（非常數(shù)，偶爾發(fā)生）。

　　在EMC測(cè)試期間，通過(guò)位于測(cè)試室內(nèi)的ISN（阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)）在EMI接收器上進(jìn)行傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量。

　　電磁兼容性抗擾度

　　EMC抗擾度測(cè)試可以被認(rèn)為是連續(xù)的或瞬態(tài)的。對(duì)產(chǎn)品應(yīng)用連續(xù)測(cè)試以模擬現(xiàn)實(shí)世界中可能發(fā)生的RF接近度。瞬態(tài)現(xiàn)象通常是涉及能量爆發(fā)的短事件。

　　EMC抗擾度測(cè)試要求通常根據(jù)電磁干擾如何耦合到設(shè)備上而分開(kāi)：

　　1.免疫，機(jī)箱端口

　　2.免疫，信號(hào)端口和電信端口

　　3.抗擾度，輸入直流電源端口

　　4.抗擾度，輸入交流電源端口

　　測(cè)試級(jí)別，干擾信號(hào)類(lèi)型等取決于被測(cè)設(shè)備的類(lèi)型和所應(yīng)用的標(biāo)準(zhǔn)。

　　持續(xù)免疫測(cè)試

　　輻射抗擾度：RF信號(hào)發(fā)生器，放大器和天線用于產(chǎn)生不同頻率的電磁場(chǎng)。被測(cè)設(shè)備（EUT）的外殼端口和相關(guān)電纜通過(guò)輻射天線暴露在電磁場(chǎng)中。輻射測(cè)試信號(hào)處于特定幅度并且調(diào)制應(yīng)用特定時(shí)間段。大多數(shù)需要抗擾度測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)都要求進(jìn)行此測(cè)試。

　　傳導(dǎo)抗擾度：

　　在傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試期間，RF信號(hào)發(fā)生器和放大器產(chǎn)生電磁場(chǎng)。該電磁場(chǎng)通過(guò)注入裝置（通常是CDN，或“耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)”用作注入裝置）耦合到產(chǎn)品信號(hào)，數(shù)據(jù)或電源端口。這種傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試本質(zhì)上是連續(xù)的，在許多標(biāo)準(zhǔn)中稱(chēng)為“射頻連續(xù)傳導(dǎo)”。通常，傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試適用于長(zhǎng)度超過(guò)3米的交流和直流端口和信號(hào)電纜。

　　工頻磁場(chǎng)抗擾度：

　　由電磁線圈產(chǎn)生的波動(dòng)磁場(chǎng)在主電源頻率（50 / 60Hz）下振蕩。EUT放置在這個(gè)波動(dòng)的磁場(chǎng)內(nèi)并暴露足夠的時(shí)間以評(píng)估產(chǎn)品的性能。磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試通常僅適用于磁敏感設(shè)備。

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